材料的微观分析可以获得材料的微观结构，揭示材料的基本性能和规律，在材料测试技术中起着重要作用。对于各种微量分析设备，如SEM、TEM、AFM、STM等，材料行业的小朋友们不会陌生。最近，小编发现了一些电子显微镜动画，并惊讶于原来枯燥的电子显微镜可以变得如此生动，更少流言蜚语。让我们与你分享。
扫描电子显微镜（SEM）
扫描电子显微镜成像使用精细聚焦的高能电子束在样品表面激发各种物理信号，例如二次电子，背散射电子这些信号由相应的检测器检测，信号的强度与样品的表面形貌有一定的对应关系。因此，可以将其转换为视频信号来调制显像管的亮度，以获得样品表面形态的图像。
扫描电镜工作图
样品二次核发射的电子能量大于样品二次核发射的电子能量，也就是说，样品二次核发射的电子能量大于样品二次核发射的电子能量。
电子发射图
二次电子探测图
二次电子样品的表面状态非常敏感，可以有效地显示样品表面的微观形貌，分辨率可达5~10nm。
二次电子扫描成像
当入射电子到达靠近原子核的位置时，它会被反射而不损失能量；它既包括与原子核相互作用形成的弹性背散射电子，也包括与样品核外的电子相互作用形成的非弹性背散射电子。
背散射电子探测图
背反射信号的分辨率远低于二次电子的分辨率。根据背散射电子图像的亮度和黑暗度，可以区分相应区域的相对原子序数，从而分析金属及其合金的微观结构。
EBSD成像过程
透射电子显微镜（TEM）
透射电子显微镜将加速聚焦的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞并改变方向，导致立体角散射。散射角的大小与样品的密度和厚度有关。因此，可以形成不同的明暗图像，并将图像放大和聚焦后显示在成像设备上。
TEM工作图
TEM成像过程
Stem成像不同于平行电子束TEM成像在样品上扫描集中的电子束与SEM不同的是，探测器置于样品下方，接收透射电子束或弹性散射电子束，放大后在荧光屏上显示亮场图像和暗场图像。
茎分析图
弹性散射发生在被入射电子束照射的样品表面上，一些电子损失的能量是样品中元素的特征值能量损失谱（AndyLau），可用于分析薄样品微区的元素组成、化学键和电子结构。
EELS示意图
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